[发明专利]超声波观测装置以及超声波观测装置的工作方法有效
| 申请号： | 201580014016.0 | 申请日： | 2015-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN106170253B | 公开（公告）日： | 2019-03-01 |
| 发明（设计）人： | 市川纯一 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号： | A61B8/14 | 分类号： | A61B8/14 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明所涉及的超声波观测装置具备：频率分析部，其通过对超声波信号的频率进行分析，来计算与该超声波信号的接收深度和接收方向相应的多个频谱；特征量计算部，其分别计算多个频谱的特征量；衰减率设定部，其设定运算用区域的衰减率，该运算用区域是在校正特征量的运算中使用的区域，并且是与超声波图像的关心区域不同的区域；以及特征量校正部，其使用由衰减率设定部设定的衰减率进行特征量的衰减校正，由此计算超声波图像的关心区域中的采样点的校正特征量。 | ||
| 搜索关键词： | 超声波 观测 装置 工作 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
1.一种超声波观测装置，基于由超声波探头获取到的超声波信号来生成超声波图像，该超声波探头具备向观测对象发送超声波并接收由该观测对象反射的超声波的超声波振子，该超声波观测装置的特征在于，具备：频率分析部，其通过对所述超声波信号的频率进行分析，来计算与该超声波信号的接收深度和接收方向相应的多个频谱；特征量计算部，其分别计算所述多个频谱的特征量；衰减率设定部，其设定运算用区域的衰减率，该运算用区域是在校正所述特征量的运算中使用的区域，并且是与所述超声波图像的关心区域不同的区域；以及特征量校正部，其使用由所述衰减率设定部设定的衰减率来进行所述特征量的衰减校正，由此计算所述超声波图像的关心区域中的采样点的校正特征量。
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