[发明专利]特别用于对象的无损检测的方法和X-射线检测系统

摘要

本发明涉及一种用于无损检测对象(104)的方法，其中电磁辐射(113、123、133)穿过对象(104)并且未吸收波束的强度值被测量和评估，所述方法包括以下步骤：利用计算机断层扫描方法产生三维数据集(300)，在该三维数据集(300)中，与对象(104)的第一物质属性对应的第一物质量的值在每一情况下与对象(104)的单独空间元素(301)相关联；在表示所述对象(104)的所述三维数据集(300)中确定检测空间(310)，该检测空间(310)具有空间元素(301)，空间元素(301)的第一物质量的值在预定值范围中；基于所述三维数据集(300)获得在每一情况下与在预定投影方向(PR1、PR2)上的检测空间(310)的空间几何量对应的值；利用二维X‑射线方法基于在预定投影方向(PR1、PR2)上的对象(104)的表面投影产生二维数据集(400)，在该二维数据集(400)中，与对象(104)的第二物质属性对应的第二物质量的值在每一情况下与对象(104)的单独表面元素(401)相关联；通过计算所述检测空间(310)到所述二维数据集(400)的投影(310’)确定所述二维数据集(400)中的检测区域(410)，该检测区域(410)与所述预定投影方向(PR1、PR2)对应；以及将所获得的所述空间几何量的值转换为对应的投影(310’)的表面元素(401)。

主权项

1.一种用于对象(104)的无损检测的方法，其中电磁辐射(113、123、133)穿过对象(104)并且未吸收波束的强度值被测量和评估，所述方法包括以下步骤：－利用计算机断层扫描方法产生三维数据集(300)，在该三维数据集(300)中，与所述对象(104)的第一物质属性对应的第一物质量的值在每一情况下与所述对象(104)的单独空间元素(301)相关联；－在表示所述对象(104)的所述三维数据集(300)中确定检测空间(310)，所述检测空间(310)具有空间元素(301)，所述空间元素(301)的第一物质量的值在预定值范围中；－基于所述三维数据集(300)获得在每一情况下与在预定投影方向(PR1、PR2)上的所述检测空间(310)的空间几何量对应的值；－利用二维X‑射线方法基于在所述预定投影方向(PR1、PR2)上的所述对象(104)的表面投影产生二维数据集(400)，在所述二维数据集(400)中，与所述对象(104)的第二物质属性对应的第二物质量的值在每一情况下与所述对象(104)的单独的表面元素(401)相关联；－通过计算所述检测空间(310)至所述二维数据集(400)的投影(310’)来确定所述二维数据集(400)中的检测区域(410)，该检测区域(410)与所述预定投影方向(PR1、PR2)对应；－将所获得的所述空间几何量的值转换为对应的所述投影(310’)的表面元素(401)；以及－通过以下校正所述二维数据集的瞬时边界(316)投影(310’)：－检查由形成所述瞬时边界(316)的投影元素(315’)确定的表面元素，检查这种与在所述预定值范围的所述第一物质量的值匹配的第二物质量的值是否在每一情况下与所述表面元素相关联，并且如果不是这样的话，将这种表面元素(317)从所述投影(310’)中删除；和/或－检查与形成所述瞬时边界(316)的投影元素(315’)邻接的表面元素，检查这种与在所述预定值范围的所述第一物质量的值匹配的第二物质量的值是否在每一情况下与所述表面元素相关联，并且如果是这样的话，将这种表面元素(318)添加至所述投影(310’)。