[发明专利]配置包括针对应用的位置的电子水平计有效

专利信息
申请号: 201580005679.6 申请日: 2015-01-14
公开(公告)号: CN106030259B 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: A·克罗拉克;S·J·希思 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01F23/28 分类号: G01F23/28;G01F23/284;G01F23/296
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张健;张涛
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种配置(101)电子水平计(ELG)的方法(100)包括利用ELG配置工具(300),其包括具有用户界面的GUI(200)。处理器(325)实施增强算法(115)和模拟器(125)。罐库(110)包括多个罐形状。用户界面接收(102)应用配置信息,包括罐形状的选择、用于定位ELG的安装位置以及至少一个过程细节。模拟器产生(103)针对至少一个水平从罐中的材料的表面反射的测量信号的所计算的强度。如果所计算(104)的强度≥预定强度,则指示ELG的适当性能,以及如果所计算的强度<预定强度,则ELG配置工具提示要在用户界面上录入的配置信息的至少一个应用的改变,并且模拟器然后重新计算所计算的强度。
搜索关键词: 配置 包括 针对 应用 位置 电子 水平
【主权项】:
1.一种配置电子水平计ELG的方法(100),包括:提供(101)ELG配置和模拟工具,ELG配置工具,所述ELG配置和模拟工具包括具有用户界面的图形用户界面GUI(200),所述ELG配置工具包括处理器(325),其实施下述各项:存储的增强算法;模拟器(125);提供多个罐形状的罐库(110);以及障碍物库(130),所述障碍物库(130)包括多个罐障碍物;所述用户界面接收(102)应用配置信息,包括:i)所述多个罐形状中的一个的选择,ii)用于定位所述ELG的安装位置的标识,以及iii)至少一个过程细节;所述模拟器产生(103)针对至少一个水平从所述罐库中的材料的表面反射的测量信号的所计算的强度,其中如果所述所计算的强度大于或等于“≥”预定强度,则指示(104)所述GUI上的所述ELG的适当性能,以及其中如果所述所计算的强度小于“<”所述预定强度,则所述ELG配置工具提示(104)要在所述用户界面上录入的所述应用配置信息中的至少一个的改变,并且所述模拟器然后重新计算所述所计算的强度,其中所述应用配置信息进一步包括:iv)从所述多个罐障碍物对至少第一障碍物的选择,以及v)罐中所述第一障碍物的位置,第一障碍物位置,以及其中所述ELG配置工具提示至少所述第一障碍物、所述第一障碍物位置和所述安装位置的所述改变。
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