[发明专利]辐射检测器和用于减小辐射检测器中的被俘获的电荷载子的量的方法有效
| 申请号： | 201580003927.3 | 申请日： | 2015-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN105899970B | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 克里斯特·乌尔贝里;M·乌雷奇;N·韦伯 | 申请（专利权）人： | 爱克斯康特有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;吕俊刚 |
| 地址： | 瑞典丹*** | 国省代码： | 瑞典;SE |
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| 摘要： | 一种基于半导体的光子计数检测器包括：半导体材料的基板(11)；检测器偏置电压源(12)，用于每当在数据获取时段(t1)期间在基板上施加检测器偏置电压；读出布置(13)，用于每当在数据获取时段之后的读出时段(t2)期间，响应于光子被吸收重复地读出表示被释放在基板(11)中并且被输送通过基板(11)的电荷的数据，其中，数据包含光子被吸收的电荷脉冲的数量；外部光源(15)，用于使基板暴露于光，以使得被俘获的电荷载子能够从基板中的缺陷能级逃离；以及控制装置(14)，其可操作地连接到检测器偏置电压源、所述读出布置和所述外部光源。控制装置(14)被构造为在至少一些所述读出时段期间同时控制检测器偏置电压源切断基板上的检测器偏置电压，并且控制外部光源(15)接通光，由此使基板(11)暴露于光，以使得被俘获的电荷载子能够从基板中的缺陷能级逃离。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检测器 用于 减小 中的 被俘 荷载 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于半导体的光子计数检测器，所述基于半导体的光子计数检测器包括：‑半导体材料的基板(11)，‑检测器偏置电压源(12)，所述检测器偏置电压源(12)用于每当在数据获取时段(t1)期间在所述基板上施加检测器偏置电压，‑读出布置(13)，所述读出布置(13)用于每当在数据获取时段之后的读出时段(t2)期间，响应于光子被吸收，重复地读出表示被释放在所述基板(11)中并且被输送通过所述基板(11)的电荷的数据，其中，所述数据包含光子被吸收的电荷脉冲的数量，‑外部光源(15)，所述外部光源(15)用于使所述基板暴露于光，以使得被俘获的电荷载子能够从所述基板中的缺陷能级逃离，以及‑控制装置(14)，所述控制装置(14)可操作地连接到所述检测器偏置电压源、所述读出布置和所述外部光源，其特征在于‑所述控制装置(14)被构造为在至少一些所述读出时段期间同时控制所述检测器偏置电压源切断所述基板上的所述检测器偏置电压，并且控制所述外部光源(15)接通所述光，由此使所述基板(11)暴露于光，以使得被俘获的电荷载子能够从所述基板中的缺陷能级逃离。
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