[实用新型]一种NFC天线测试装置有效
| 申请号： | 201521065959.X | 申请日： | 2015-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN205212845U | 公开（公告）日： | 2016-05-04 |
| 发明（设计）人： | 黄参 | 申请（专利权）人： | 上海安费诺永亿通讯电子有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/12 | 分类号： | H04B17/12 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201108 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种NFC天线测试装置，包括测试箱、辅助天线、辅助天线承载体；所述测试箱顶部设有与待测NFC天线对应的测试位，所述测试箱还设有与所述待测NFC天线馈电点接触导通的接触探针A、接触探针B，所述接触探针A、接触探针B之间并联连接至少一个电容，所述电容与待测NFC天线构成LC闭合回路；所述辅助天线设于所述天线承载体上，所述辅助天线的末端外接网络分析仪；所述辅助天线与所述LC闭合回路耦合获取所述待测NFC天线上的回波信号传输至所述网络分析仪。本实用新型提供一种通用的测试方案，对于不同外形的待测NFC天线均具有很好适用性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nfc 天线 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种NFC天线测试装置，其特征在于，包括测试箱、辅助天线、辅助天线承载体；所述测试箱顶部设有与待测NFC天线对应的测试位，所述测试箱还设有与所述待测NFC天线馈电点接触导通的接触探针A、接触探针B，所述接触探针A、接触探针B之间并联连接至少一个电容，所述电容与待测NFC天线构成LC闭合回路；所述辅助天线设于所述天线承载体上，所述辅助天线的末端外接网络分析仪；所述辅助天线与所述LC闭合回路耦合获取所述待测NFC天线上的回波信号传输至所述网络分析仪。
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