[实用新型]一种光耦测试电路板有效
申请号: | 201520858674.5 | 申请日: | 2015-10-30 |
公开(公告)号: | CN205103337U | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 王伟;杨旭文 | 申请(专利权)人: | 北京交控科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种光耦测试电路板,包括:1个电源模块、1个现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,简称FPGA)最小系统和至少1个光耦测试电路;所述电源模块分别与所述FPGA最小系统和所述光耦测试电路连接,且所述FPGA最小系统与所述光耦测试电路连接。通过将被测光耦插在测试电路上,不仅一次可测试多个光耦,而且插拔方便,便于芯片的二次使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 电路板 | ||
【主权项】:
一种光耦测试电路板,其特征在于,包括:1个电源模块、1个现场可编程门阵列FPGA最小系统和至少1个光耦测试电路;所述电源模块分别与所述FPGA最小系统和所述光耦测试电路连接,且所述FPGA最小系统与所述光耦测试电路连接。
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