[实用新型]一种光耦测试电路板有效

专利信息
申请号: 201520858674.5 申请日: 2015-10-30
公开(公告)号: CN205103337U 公开(公告)日: 2016-03-23
发明(设计)人: 王伟;杨旭文 申请(专利权)人: 北京交控科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李相雨
地址: 100070 北京市丰台区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种光耦测试电路板,包括:1个电源模块、1个现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,简称FPGA)最小系统和至少1个光耦测试电路;所述电源模块分别与所述FPGA最小系统和所述光耦测试电路连接,且所述FPGA最小系统与所述光耦测试电路连接。通过将被测光耦插在测试电路上,不仅一次可测试多个光耦,而且插拔方便,便于芯片的二次使用。
搜索关键词: 一种 测试 电路板
【主权项】:
一种光耦测试电路板,其特征在于,包括:1个电源模块、1个现场可编程门阵列FPGA最小系统和至少1个光耦测试电路;所述电源模块分别与所述FPGA最小系统和所述光耦测试电路连接,且所述FPGA最小系统与所述光耦测试电路连接。
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