[实用新型]一种纳米金标试纸检测系统有效
| 申请号： | 201520623689.3 | 申请日： | 2015-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN205015279U | 公开（公告）日： | 2016-02-03 |
| 发明（设计）人： | 张贻琛;杨嘉伟 | 申请（专利权）人： | 普生（天津）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 天津市新天方有限责任专利代理事务所 12104 | 代理人： | 张强 |
| 地址： | 300457 天津市滨*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种纳米金标试纸检测系统包括CCD传感器，信号调理器，A/D转换模块，电平转换模块，CPLD，ARM处理器，以太网通讯模块，FIFO缓存模块，显示模块。所述CCD传感器的输出端连接信号调理器，所述信号调理器的输出端连接A/D转换模块，所述A/D转换模块的输出端连接电平转换模块，所述电平转换模块的输出端连接CPLD，所述CPLD与ARM处理器双向连接，所述ARM处理器与以太网通讯模块双向连接，所述FIFO缓存模块与CPLD双向连接，所述ARM处理器的输出端连接显示模块，所述CPLD的输出端分别连接CCD传感器和A/D转换模块。通过采用光电检技术测使检测结果更加准确、可靠。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 试纸 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种纳米金标试纸检测系统，其特征在于，包括CCD传感器，信号调理器，A/D转换模块，电平转换模块，CPLD，ARM处理器，以太网通讯模块，FIFO缓存模块，显示模块，所述CCD传感器的输出端连接信号调理器，所述信号调理器的输出端连接A/D转换模块，所述A/D转换模块的输出端连接电平转换模块，所述电平转换模块的输出端连接CPLD，所述CPLD与ARM处理器双向连接，所述ARM处理器与以太网通讯模块双向连接，所述FIFO缓存模块与CPLD双向连接，所述ARM处理器的输出端连接显示模块，所述CPLD的输出端分别连接CCD传感器和A/D转换模块。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普生（天津）科技有限公司，未经普生（天津）科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520623689.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：工件夹紧装置及刮滚机
- 下一篇：联系人时区管理方法及系统
