[实用新型]一种玻璃欠点分析用显微层面测量标尺装置有效

专利信息
申请号: 201520620581.9 申请日: 2015-08-17
公开(公告)号: CN204924985U 公开(公告)日: 2015-12-30
发明(设计)人: 赵亮;刘彦斌 申请(专利权)人: 彩虹(合肥)液晶玻璃有限公司
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 230011 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型涉及一种玻璃欠点分析用显微层面测量标尺装置,包括用于观察待测玻璃片内欠点或表面标记的显微镜,显微镜含有固定式镜筒和用于放置玻璃片的移动式载物台;显微镜上连接有固定的百分表,在显微镜观察到玻璃片内欠点或表面标记时,百分表的测头与载物台的上表面始终相接触。在测试时,先对玻璃片的欠点位置圈出,在显微镜对玻璃片上的表面标记与欠点分别进行观察时,通过百分表的测头始终与载物台相接触,则百分表能够测量出载物台的移动尺寸,得出欠点在玻璃片中的分布位置,本实用新型可以在显微观察欠点尺寸大小、形状的同时,可精确得出欠点在玻璃片内部的位置尺寸,便于统计分析,找出欠点发生的原因,从而保证玻璃生产正常运行。
搜索关键词: 一种 玻璃 分析 显微 层面 测量 标尺 装置
【主权项】:
一种玻璃欠点分析用显微层面测量标尺装置,其特征在于:包括用于观察待测玻璃片(8)内欠点(9)或表面标记的显微镜(1),显微镜(1)含有固定式镜筒和用于放置玻璃片(8)的移动式载物台(3);显微镜(1)上连接有固定的百分表(6),在显微镜(1)观察到玻璃片(8)内欠点(9)或表面标记时,百分表(6)的测头(10)与载物台(3)的上表面始终相接触。
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