[实用新型]用于检测透镜中心偏的光学光路及其光学检测装置有效
| 申请号： | 201520614007.2 | 申请日： | 2015-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN204831226U | 公开（公告）日： | 2015-12-02 |
| 发明（设计）人： | 梁海锋;秦文罡;王婷 | 申请（专利权）人： | 西安工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 | 代理人： | 黄秦芳 |
| 地址： | 710032 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于检测透镜中心偏的光学光路，该光学光路包括了依次设置在同一光轴上的光源、聚焦单元、前置调焦单元，待测透镜和位敏探测器PSD；本实用新型还公开了一种用于检测透镜中心偏的光学检测装置，本实用新型操作简单，焦距测量范围大，效率高，本实用新型能够检测无穷长焦距的透镜，本实用新型的中心偏测量范围和调焦系统无关，只和PSD尺寸以及待测零件到PSD的距离相关，通常PSD尺寸远远大于CCD的尺寸，且其分辨率也远远大于CCD，因此中心测量范围大，调整方便、快捷，不需要准确的调清晰像，节省时间，效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 透镜 中心 光学 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检测透镜中心偏的光学光路，其特征在于，该光学光路包括了依次设置在同一光轴上的光源（1）、聚焦单元（2）、前置调焦单元（3），待测透镜（４）和位敏探测器PSD（５）。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安工业大学，未经西安工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520614007.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：大缸径缸套综合尺寸自动检测仪
- 下一篇：手机机壳轮廓度检测设备
