[实用新型]电子组件的测试装置有效
申请号: | 201520607064.8 | 申请日: | 2015-08-13 |
公开(公告)号: | CN204925272U | 公开(公告)日: | 2015-12-30 |
发明(设计)人: | 刘俊贤;林政辉;孙家彬;卢忻杰 | 申请(专利权)人: | 颖崴科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人: | 张雅军;史瞳 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种电子组件的测试装置,包含一测试座,及数个穿设于该测试座的弹簧探针。该测试座是以金属材质制成,并包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔,每一穿孔实质上具有一单一尺寸的预定孔径。所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内,且能与设置于测试座上的一电子组件形成电连接。通过该测试座的每一穿孔实质上为单一孔径的直孔的设计,更容易调整每一弹簧探针的阻抗匹配,提高测试装置的测试性能。 | ||
搜索关键词: | 电子 组件 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种电子组件的测试装置,用于测试一个电子组件,该电子组件具有一个电路本体部,及数个设置于该电路本体部上的电性接触部,该测试装置包含一个以金属材质制成的测试座,及数个弹簧探针,该测试座包括数个间隔设置且上下贯穿的穿孔,所述弹簧探针是穿设于该测试座并分别定位于所述穿孔内而且能与该电子组件的电性接触部形成电连接,其特征在于:每一个穿孔具有一个单一尺寸的预定孔径,而且所述电性接触部及所述弹簧探针皆不显露于相对应的穿孔外。
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