[实用新型]自动控制共聚焦显微荧光仪

摘要

本实用新型涉及一种自动控制共聚焦显微荧光仪，主要包括激光发射器(1)、第一狭缝(2)、第一半反半透镜(3)、滤光片(4)、第二半反半透镜(5)、照相机(6)、显微物镜(7)、样品台(8)、狭缝(9)、第三狭缝(10)、光谱仪(11)、第一聚光透镜(12)、准直透镜(13)、第二聚焦透镜(14)、第三聚焦透镜(15)、控制器(16)、CCD探测器(17)和计算机(18)，所述计算机(18)通过控制器(16)与激光发射器(1)连接，所述光谱仪(11)连接CCD探测器(17)，CCD探测器(17)连接计算机(18)。本实用新型提供的自动控制共聚焦显微荧光仪，可以得到材料带隙、缺陷、杂质能级以及复合机制等参数信息，通过对发光谱中峰位、半高宽等的分析，为科学实验提供证据。

主权项

一种自动控制共聚焦显微荧光仪，其特征在于：所述自动控制共聚焦显微荧光仪主要包括激光发射器(1)、第一狭缝(2)、第一半反半透镜(3)、滤光片(4)、第二半反半透镜(5)、照相机(6)、显微物镜(7)、样品台(8)、狭缝(9)、第三狭缝(10)、光谱仪(11)、第一聚光透镜(12)、准直透镜(13)、第二聚焦透镜(14)、第三聚焦透镜(15)、控制器(16)、CCD探测器(17)和计算机(18)，所述计算机(18)通过控制器(16)与激光发射器(1)连接，所述光谱仪(11)连接CCD探测器(17)，CCD探测器(17)连接计算机(18)。