[实用新型]基于LabVIEW的电路板自动测试系统有效

专利信息
申请号: 201520377584.4 申请日: 2015-06-03
公开(公告)号: CN204789908U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 于洋;丁喜波;胡逸;李春玉 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 代理人: 陈润明
地址: 150080 黑龙江省哈*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于LabVIEW的电路板自动测试系统,它涉及电路板测试系统。本实用新型的目的是为了解决现有技术中的电路板测试系统存在熟读低、可靠性差、可视化差的问题。本实用新型包括上位机、数据采集卡、待测电路板、参考电路板和若干弹性探针,待测电路板上设有若干测试点,参考电路板上设有若干参考点,弹性探针的一端固定在参考电路板的参考点上,弹性探针的另一端与待测电路板的测试点接触,参考电路板的参考点通过导线与数据采集卡的输入端建立连接,数据采集卡的输出端通过USB接口与上位机建立连接。本实用新型实现了对电路板进行高速可靠地测试,提高数字电路的质量和可靠性。
搜索关键词: 基于 labview 电路板 自动 测试 系统
【主权项】:
基于LabVIEW的电路板自动测试系统,其特征在于:包括上位机(1)、数据采集卡(2)、待测电路板(3)、参考电路板(4)、激励电源(5)和若干弹性探针,所述待测电路板(3)上设有若干测试点,参考电路板(4)上设有若干电源参考点和信号参考点,弹性探针包括电源弹性探针(6)和测试弹性探针(7),所述激励电源(5)的输出端连接参考电路板(4)的电源参考点,电源弹性探针(6)的一端固定在电源参考点上,测试弹性探针(7)的一端固定在信号参考点上,电源弹性探针(6)的另一端和测试弹性探针(7)的另一端分别与待测电路板(3)的测试点接触,所述参考电路板(4)的信号参考点通过导线与数据采集卡(2)的输入端建立连接,数据采集卡(2)的输出端通过USB接口与上位机(1)建立连接。
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