[实用新型]辐射污染检测系统以及检测设备和辐射粒子探测器

摘要

本实用新型涉及辐射污染检测系统、表面辐射污染检测设备和用于辐射污染检测设备的辐射粒子探测器。所述辐射污染检测系统包括至少一个辐射粒子探测器，所述辐射粒子探测器包括探测单元和硅光电倍增管，并且所述辐射污染检测系统还包括：至少一个偏压产生模块，其用于向硅光电倍增管提供偏置电压，以使得硅光电倍增管在其工作温度范围内具有预设的增益；和/或探测数据处理模块，其与硅光电倍增管相连，用于处理由于硅光电倍增管的自身噪声影响而在所述工作温度范围内对于探测到的辐射粒子计数值所产生的误差。本实用新型具有制造、安装及维护成本低、电磁兼容性好、工作电压要求低、体积紧凑、易于装配、更换和使用等诸多优势。

主权项

一种辐射污染检测系统，其包括至少一个辐射粒子探测器(1)，其特征在于，所述辐射粒子探测器(1)包括：探测单元(11)，其设置成用于探测辐射粒子，并将探测到的辐射粒子的动能转换成光能输出；以及硅光电倍增管(12)，其设置成用于接收所述光能并将其转换成电信号输出；并且，所述辐射污染检测系统还包括：至少一个偏压产生模块(2)，其与所述至少一个辐射粒子探测器(1)相对应，并且与其中的所述硅光电倍增管(12)相连以向其提供偏置电压，所述偏置电压使得所述硅光电倍增管(12)在其工作温度范围内具有预设的增益；和/或探测数据处理模块，其与所述至少一个辐射粒子探测器(1)中的所述硅光电倍增管(12)相连，用于处理由于所述硅光电倍增管(12)的自身噪声影响而在所述工作温度范围内对于所述探测到的辐射粒子计数值所产生的误差。