[实用新型]晶振检测仪功率清洗机构有效

专利信息
申请号: 201520225279.3 申请日: 2015-04-15
公开(公告)号: CN204523619U 公开(公告)日: 2015-08-05
发明(设计)人: 杨启付;林东国;赵乐平 申请(专利权)人: 福建省将乐县长兴电子有限公司
主分类号: B08B1/00 分类号: B08B1/00;G01R1/04;G01R23/02
代理公司: 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 代理人: 曾捷
地址: 353300 福建*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 实用新型公开一种晶振检测仪功率清洗机构,包括倾斜设置的晶体轨道,所述晶体轨道上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽,所述晶体轨道一侧设置有固定座,该固定座上设置有活动连接的清洗装置和检测装置,所述清洗装置对应所述晶振通槽一端设置有功率清洗头,该功率清洗头与外部的晶体功率清洗器电连,所述检测装置对应所述晶振通槽一端设置有检测头,该检测头与外部的晶体检测器电连。由于本实用新型在晶体轨道上设置有清洗装置,其可对晶振进行功率清洗,使晶振银面分布更为均匀,加大了晶振的功率信号,使产品质量更为稳定。
搜索关键词: 检测 功率 清洗 机构
【主权项】:
一种晶振检测仪功率清洗机构,包括倾斜设置的晶体轨道(1),所述晶体轨道(1)上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽(2),其特征在于:所述晶体轨道(1)一侧设置有固定座(3),该固定座(3)上设置有活动连接的清洗装置(4)和检测装置(5),所述清洗装置(4)对应所述晶振通槽(2)一端设置有功率清洗头(6),该功率清洗头(6)与外部的晶体功率清洗器电连,所述检测装置(5)对应所述晶振通槽(2)一端设置有检测头(7),该检测头(7)与外部的晶体检测器电连。
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