[实用新型]一种用于PCB检测通孔低阻测试装置有效
| 申请号： | 201520151474.6 | 申请日： | 2015-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN204536491U | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 魏勇;鲁龙辉;严学锋 | 申请（专利权）人： | 上海嘉捷通电路科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 叶敏华 |
| 地址： | 201807 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，包括测试作业区、操作盘、测试控制板、机台输入信号线、界面板卡及伺服器，所述的测试作业区用于对PCB进行通孔低阻测试，所述的测试作业区内含有探针盒，所述的伺服器控制着测试作业区内探针盒的移动，所述的测试控制板与测试作业区连接，控制测试作业区的运行，所述的界面板卡通过机台输入信号线与外界的信息输入设备和信息接收设备连接，所述的操作盘与测试控制板及界面板卡连接，为测试控制板与界面板卡的操作控制界面。与现有技术相比，本实用新型的装置测量精确，使用方便，自动化程度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 pcb 检测 通孔低阻 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种用于PCB检测通孔低阻测试装置，其特征在于，包括测试作业区(1)、操作盘(2)、测试控制板(3)、机台输入信号线(4)、界面板卡(5)及伺服器(6)，所述的测试作业区(1)用于对PCB进行通孔低阻测试，所述的测试作业区(1)内含有探针盒(11)，所述的伺服器(6)控制着测试作业区(1)内探针盒(11)的移动，所述的测试控制板(3)与测试作业区(1)连接，控制测试作业区(1)的运行，所述的界面板卡(5)通过机台输入信号线(4)与外界的信息输入设备和信息接收设备连接，所述的操作盘(2)与测试控制板(3)及界面板卡(5)连接，为测试控制板(3)与界面板卡(5)的操作控制界面。
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