[实用新型]一种测试夹具

摘要

本实用新型涉及半导体激光器芯片生产加工领域，具体公开了一种测试夹具，包括载台、盖板、挡板、滑轨、压块和绝缘软垫，待测试芯片置于盖板上，一侧与挡板接触，实现限位，盖板和挡板与载台固定连接；待测试芯片的上方设有压块，压块置于滑轨内并可上下活动，压块的下端设有绝缘软垫，绝缘软垫在与待测试芯片上电极接触的部位设有第一导电膜，盖板与待测试芯片的下电极接触的部位设有第二导电膜，第一导电膜和第二导电膜分别通过导线与测试仪连接。本实用新型还包括压紧机构，通过螺栓调节压力，第一导电膜与绝缘软垫之间设有压力传感器，通过压力传感器的读值调节测试压力。本装置不需频繁更换测试探针，提高测试效率，对测试芯片电极无损伤。

主权项

一种测试夹具，其特征在于：包括盖板（1）、滑轨（3）、压块（2）和绝缘软垫（9），待测试芯片条（4）置于水平盖板（1）上，其下电极与盖板（1）上的第二导电膜接触；待测试芯片条（4）的上方设有压块（2），所述压块（2）的两端位于一对平行的垂直滑轨（3）上，并可自由上下滑动；所述滑轨（3）的下端与盖板（1）固定连接，所述压块（2）的下端设有绝缘软垫（9），所述绝缘软垫（9）的下端设有第一导电膜（12），所述第一导电膜（12）下端包覆有绝缘胶带（13），所述绝缘胶带（13）在第一导电膜（12）与待测试芯片条（4）的上电极接触的部位设有孔，能够使第一导电膜（12）与芯片条（4）上电极接触；所述第一导电膜（12）通过导线与测试仪输出端连接，所述第二导电膜通过导线与测试仪输入端连接。