[实用新型]新型可调节测试插座盖

摘要

本实用新型涉及一种新型可调节测试插座盖，包括中空的底座，底座上侧设置有上壳体，底座的一侧与上壳体的一侧可旋转的连接，上壳体上设置有可旋转的锁定件，锁定件可锁扣在底座的卡扣上，上壳体的下侧还弹性固定有压板，上壳体中间设置有圆柱形的中空部，压圈上设置有与中空部的内螺纹配合的外螺纹，压圈上固定连接有旋钮部，压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，刻度盘上设置有多个定位孔，上壳体上设置有与定位孔对应的定位件，刻度盘上在压圈一侧还设置有限位件，限位件限制压圈旋转角度，通过调整定位件卡固在刻度盘的不同定位孔中，可使限位件限制压圈旋转不同的角度，使压板下降不同的高度，实现一套测试插座盖进行多种不同厚度的芯片测试。

主权项

一种新型可调节测试插座盖，其特征在于，包括中空的底座，所述底座上侧设置有上壳体，所述底座的一侧与所述上壳体的一侧可旋转的连接，所述上壳体上在与所述底座连接侧的相对一侧设置有可旋转的锁定件，所述锁定件可锁扣在所述底座的卡扣上，所述上壳体的下侧还弹性固定有压板，所述上壳体中间设置有圆柱形的中空部，所述中空部的内壁上设置有内螺纹，所述中空部内设置有压圈，所述压圈上设置有与所述内螺纹配合的外螺纹，所述压圈上固定连接有旋钮部，所述压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，所述刻度盘上设置有多个定位孔，所述上壳体上设置有与所述定位孔对应的定位件，所述刻度盘上在所述压圈一侧还设置有限位件，所述限位件限制压圈旋转的角度。