[发明专利]用于确定到辊上的材料的外表面的距离的装置以及相关方法有效
| 申请号： | 201511018955.0 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN105738910B | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | J·布卢姆菲尔德;K·韦纳 | 申请（专利权）人： | 意法半导体公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;杨立 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种感测装置用于感测辊上的材料的外表面。红外(IR)激光源被配置成用于将IR激光辐射引导至该辊上的材料的外表面。单光子雪崩二极管(SPAD)检测器被配置成用于接收来自该辊上的材料的外表面的反射IR激光辐射。控制器被耦合至该IR激光源和该SPAD检测器以基于该IR激光辐射的飞行时间测定到该辊上的材料的外表面的距离。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 材料 外表 距离 装置 以及 相关 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于感测辊上的材料的外表面的感测装置，所述感测装置包括：红外(IR)激光源，所述IR激光源被配置成用于将IR激光辐射引导至所述辊上的材料的所述外表面；单光子雪崩二极管(SPAD)检测器，所述SPAD检测器被配置成用于接收来自所述辊上的材料的所述外表面的反射IR激光辐射；以及控制器，所述控制器被耦合至所述IR激光源和所述SPAD检测器以基于所述IR激光辐射的飞行时间确定到所述辊上的材料的所述外表面的距离。
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