[发明专利]便携式RFID产品参数测试装置有效

专利信息
申请号: 201510990045.2 申请日: 2015-12-25
公开(公告)号: CN105553577B 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 段文彬;胡冲;王良前;杨红;关敬涛 申请(专利权)人: 重庆微标科技股份有限公司
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H04B17/13;H04B17/15
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 尹丽云
地址: 401121 重庆市渝北区黄山*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明提供一种便携式RFID产品参数测试装置,包括耦合接口,适于连接在阅读器和天线上,将阅读器和天线连通并获取经阅读器发送的入射功率信号和经天线接收的反射功率信号;功率检测装置,连接所述耦合接口,适于将所述入射功率信号转换得到入射电压值、以及将所述反射功率信号转换得到反射电压值,并予以输出;控制单元,适于接收所述入射电压值和反射电压值,进行计算得到包括阅读器的发射功率和发射频率以及天线端的驻波比中至少一个的参数,并予以输出。本发明具有在线检测功能,内置电池及LCD显示屏,便于现场维护、测量精度高等特点。
搜索关键词: 便携式 rfid 产品 参数 测试 装置
【主权项】:
1.一种便携式RFID产品参数测试装置,其特征在于,包括:耦合接口,适于连接在阅读器和天线上,将阅读器和天线连通并获取经阅读器发送的入射功率信号和经天线接收的反射功率信号;功率检测装置,连接所述耦合接口,适于将所述入射功率信号转换得到入射电压值、以及将所述反射功率信号转换得到反射电压值,并予以输出,所述功率检测装置包括:入射电压检测模块,包括第一π衰电路单元和第一检波单元,所述第一π衰电路单元连接在耦合接口上,适于将入射功率信号做阻抗匹配调节后输出至第一检波单元;所述第一检波单元连接第一π衰电路单元,适于将第一路入射功率信号转换成对应的入射电压值,并予以输出;反射电压检测模块,包括第二π衰电路单元和第二检波单元,所述第二π衰电路单元连接于耦合接口,适于将经耦合接口接入的自天线接收的反射功率信号做阻抗匹配调节后输出至第二检波单元;第二检波单元连接第二π衰电路单元,适于将反射功率信号转换成对应的反射电压值,并予以输出;功率分配单元,输入连接在耦合接口上,适于将由耦合接口接入的阅读器发送的入射功率信号分成至少两路入射功率信号,其中一路入射功率信号输出至入射电压检测模块,另一路入射功率信号输出至分频电压检测模块;分频电压检测模块,包括第三π衰电路单元和频率检测单元,所述第三π衰电路单元连接在功率分配单元上,适于将至少两路入射功率信号中的一路入射功率信号做阻抗匹配调节后输出至频率检测单元;频率检测单元连接第三π衰电路单元,适于将第二路入射功率信号转换成对应的分频电压值,并予以输出;控制单元,适于接收所述入射电压值和反射电压值,进行计算得到包括阅读器的发射功率和发射频率以及天线端的驻波比中至少一个的参数,并予以输出。
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