[发明专利]一种双口RAM测试设备的处理板结构

摘要

本发明属于电子控制领域，具体涉及一种双口RAM测试设备的处理板结构，包括壳体、显示屏、与所述显示屏连接的主板、处理板、与处理板连接的SCSI‑68接口；所述主板与处理板通过PCI‑E接口相连接；所述处理板包括PCI‑E桥接芯片、FPGA、驱动电路、电源模块；所述PCI‑E接口通过PCI‑E桥接芯片与FPGA相连；所述FPGA与驱动电路电联接；本发明通过将所有测试设备高度集成化，采用10寸平板电脑结构，节省了空间且便于携带，环境适应性增强，适合爬高入低进行作业；另外，处理板的结构采用RAM信号‑FPGA‑千兆以太网‑PCIE架构，使得读写速度大大高，省掉大量人力，提高了测试效率。

主权项

一种双口RAM测试设备的处理板结构，包括壳体（1）、显示屏（2）、与所述显示屏（2）连接的主板（3）、处理板（5）、与处理板（5）连接的SCSI‑68接口（6）；所述主板（3）与处理板（5）通过PCI‑E接口（4）相连接；所述显示屏（2）、主板（3）、PCI‑E接口（4）、处理板（5）、SCSI‑68接口（6）均设置于壳体（1）内部；其特征在于：所述处理板（5）包括PCI‑E桥接芯片（7）、FPGA（8）、驱动电路（9）、电源模块（10）；所述PCI‑E接口（4）通过PCI‑E桥接芯片（7）与FPGA（8）相连；所述电源模块（10）分别与PCI‑E桥接芯片（7）、FPGA（8）、驱动电路（9）连接；所述FPGA（8）通过驱动电路（9）与SCSI‑68接口（6）电联接。