[发明专利]PCB高清放大镜检验台改进结构在审
申请号: | 201510933809.4 | 申请日: | 2015-12-15 |
公开(公告)号: | CN105352400A | 公开(公告)日: | 2016-02-24 |
发明(设计)人: | 李泽清 | 申请(专利权)人: | 竞陆电子(昆山)有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德;周雅卿 |
地址: | 215300 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种PCB高清放大镜检验台改进结构,高清放大镜检验台具有台面,所述台面具有工作片放置区以及位于工作片放置区外围的尺寸测量区,所述工作片放置区为矩形,矩形的工作片放置区的至少一对相邻边的外围设有所述尺寸测量区,所述尺寸测量区设有刻度尺,并且所述刻度尺的刻度设置方式是沿矩形的工作片放置区的边沿设置并且以一对相邻边的相交处为共同的零刻线。该PCB高清放大镜检验台改进结构只要将工作片放置于检验台上,即可迅速测量出工作片的尺寸,提升了检验效率。 | ||
搜索关键词: | pcb 放大镜 检验 改进 结构 | ||
【主权项】:
一种PCB高清放大镜检验台改进结构,其特征在于:高清放大镜检验台具有台面(1),所述台面具有工作片放置区(11)以及位于工作片放置区外围的尺寸测量区(12),所述工作片放置区为矩形,矩形的工作片放置区的至少一对相邻边的外围设有所述尺寸测量区,所述尺寸测量区设有刻度尺(121),并且所述刻度尺的刻度设置方式是沿矩形的工作片放置区的边沿设置并且以一对相邻边的相交处为共同的零刻线。
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