[发明专利]一种用于二次电源模块单粒子辐射效应测试的装置在审
| 申请号： | 201510887314.2 | 申请日： | 2015-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN106855613A | 公开（公告）日： | 2017-06-16 |
| 发明（设计）人： | 刘伟鑫;李珍;肖寅风;王昆黍 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心31107 | 代理人： | 金家山 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于二次电源模块单粒子辐射效应测试的装置包括数字示波器、测温单元、PCB板、夹具；所述夹具安装于PCB板，所述夹具底部具有第一通孔，所述测温单元安装于所述第一通孔，二次电源模块安装于夹具时，二次电源模块的底部与测温单元的测温部件接触；所述数字示波器采集测温部件的输出。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 二次 电源模块 粒子 辐射 效应 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种用于二次电源模块单粒子辐射效应测试的装置，其特征在于，包括：数字示波器、测温单元、PCB板、夹具；所述夹具安装于PCB板，所述夹具底部具有第一通孔，所述测温单元安装于所述第一通孔，二次电源模块安装于夹具时，二次电源模块的底部与测温单元的测温部件接触；所述数字示波器采集测温部件的输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海精密计量测试研究所，未经上海精密计量测试研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510887314.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：钛酸锂电池健康状态估算方法
- 下一篇：一种信号高频衰减自适应分段校准方法
