[发明专利]一种双摆镜装调方法有效

专利信息
申请号: 201510887183.8 申请日: 2015-12-04
公开(公告)号: CN105353497B 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 周景欢;王亮;张磊;吴晓鸣;李继朋 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G02B7/182 分类号: G02B7/182
代理公司: 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人: 牛爱周
地址: 471009 *** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种双摆镜装调方法,属于光学装调技术领域。该方法包括:分别标出扫描部件中两个摆镜的几何中心,并使其始终停在零位;将一平晶固定在扫描部件的前基准面上,开启调校激光,使调校激光经平晶沿原光路返回,建立光学基准,去掉平晶,保持调校激光和扫描部件的壳体在后续调试过程中不发生位移;再将一平晶固定在扫描部件的后基准面上,调校两个摆镜,使调校激光依次穿过两个摆镜的几何中心,并经平晶沿原光路返回,建立调试基准;双摆镜上电摆动,每隔0.5°~1.5°下电,微调两个摆镜,使调校激光依次穿过两个摆镜的几何中心,并经平晶沿原光路返回,在双摆镜全行程内调校结果满足上述技术要求,即可。
搜索关键词: 一种 双摆镜装调 方法
【主权项】:
1.一种双摆镜装调方法,其特征在于:包括以下步骤:1)分别标出扫描部件中两个摆镜的几何中心,并保持两个摆镜在后续调试过程中始终停在零位;2)将一平晶固定在扫描部件的前基准面上,开启调校激光,使调校激光经平晶沿原光路返回,建立光学基准,去掉该平晶,并保持调校激光和扫描部件的壳体在后续调试过程中不发生位移;3)再将一平晶固定在扫描部件的后基准面上,调校两个摆镜,使调校激光依次穿过两个摆镜的几何中心,并经平晶沿原光路返回,建立调试基准;4)双摆镜上电摆动,每隔0.5°~1.5°下电,微调两个摆镜,使调校激光依次穿过两个摆镜的几何中心,并经平晶沿原光路返回,在双摆镜全行程内调校结果满足所述调校激光能够依次穿过两个摆镜的几何中心,并经平晶沿原光路返回,即可。
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