[发明专利]一种简化PAD设计的电子标签测试装置及实现方法有效
| 申请号： | 201510851987.2 | 申请日： | 2015-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN105510800B | 公开（公告）日： | 2019-06-11 |
| 发明（设计）人： | 包玉华;徐海军;廖峰;卢菊春 | 申请（专利权）人： | 华大半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专尚知识产权代理事务所(普通合伙) 31305 | 代理人： | 张政权;张露薇 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种简化PAD设计的电子标签测试装置，该装置包括：电子标签芯片以及测试设备；其中，电子标签芯片，用于接收测试设备发送的测试命令，解码后，将测试状态输出，供测试设备采样；测试设备是通用或专用设备，用于向电子标签芯片发送测试命令，根据接收的输出状态，确定电子标签的功能是否正确。本发明还提供了一种简化PAD设计的电子标签测试实现方法，采用本发明所述的装置和方法，实现了更大的测试覆盖率，并且有效减少了标签芯片用于测试的PAD数量，有利于减小标签芯片的面积，从而降低芯片成本。 | ||
| 搜索关键词： | 电子标签 电子标签芯片 测试设备 标签芯片 测试命令 测试装置 发送 接收测试设备 测试覆盖率 测试 解码 测试状态 输出状态 芯片成本 有效减少 专用设备 采样 减小 输出 通用 | ||
【主权项】：
1.一种简化PAD设计的电子标签测试装置，其特征在于，该装置包括：电子标签芯片以及测试设备；其中，电子标签芯片，用于接收测试设备发送的测试命令，解码后，将测试状态输出，并在固定的时钟计数期内保持输出测试状态，该时钟计数长度由标签芯片的时钟偏差决定，以保证最快时钟的标签芯片的测试状态输出也能被测试设备采样；测试设备是通用或专用设备，用于向电子标签芯片发送测试命令，根据接收的输出测试状态，确定电子标签的功能是否正确；所述电子标签芯片与测试设备的接口采用异步方式实现，由电源VDD、地GND及测试IO端口组成。
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