[发明专利]一种低成本灵敏度测试装置在审
申请号: | 201510851875.7 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN106817177A | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 王宇飞;马纪丰;高峰 | 申请(专利权)人: | 华大半导体有限公司 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种低成本灵敏度测试装置,该装置包括主控单元,通过USB接口与外部通信,接收命令,并返回响应,与射频TR芯片通信,通过控制可调衰减单元、固定衰减单元改变输出功率,切换通路;射频TR芯片,与可调衰减单元、固定衰减单元相连,实现收发通路;可调衰减单元,用于根据主控单元控制选择无衰减通路或级联衰减通路;固定衰减单元,根据主控单元控制选择无衰减通路或固定衰减通路。该装置具有测试成本低、测试灵敏度高、输出功率动态范围大、收发隔离度高等特征。 | ||
搜索关键词: | 一种 低成本 灵敏度 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种低成本灵敏度测试装置,其特征在于,该装置包括主控单元、射频TR芯片、可调衰减单元与固定衰减单元,主控单元,通过USB接口与外部通信,接收命令,并返回响应,与射频TR芯片通信,通过控制可调衰减单元、固定衰减单元改变输出功率,切换通路;射频TR芯片,与可调衰减单元、固定衰减单元相连,实现收发通路;可调衰减单元,用于根据主控单元控制选择无衰减通路或级联衰减通路;固定衰减单元,根据主控单元控制选择无衰减通路或固定衰减通路。
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