[发明专利]一种飞针用测试与打点机构在审
| 申请号： | 201510838846.7 | 申请日： | 2015-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN105372532A | 公开（公告）日： | 2016-03-02 |
| 发明（设计）人： | 吕磊;高慧莹;胡晓霞;李元升 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十五研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;B25H7/04 |
| 代理公司： | 北京中建联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11004 | 代理人： | 宋元松 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种飞针用测试与打点机构，其包括直线运动机构、测针机构、打点机构及控制模块，测针机构、打点机构固定在直线运动机构上的托板上；飞针测试过程中，控制模块控制测针机构上的金属测针快速接触和分离被测基板，以测试焊盘，打点机构上的打点丝对不合格焊盘进行打点标记。本发明提供的一种飞针用测试与打点机构应用于飞针测试技术领域，其结构合理，能够准确、可靠的完成焊接器件的测试，又能将测试不合格的焊点进行打点标记，促进后期不合格焊点的统计与修复，推进生产工艺问题的发现与改进。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 飞针用 测试 打点 机构 | ||
【主权项】：
一种飞针用测试与打点机构，其特征在于，包括直线运动机构（1）、测针机构（2）、打点机构（3）及控制模块，测针机构（2）、打点机构（3）固定在直线运动机构（1）上的托板（15）上；飞针测试过程中，控制模块控制测针机构（2）上的金属测针（23）快速接触和分离被测基板，以测试焊盘，打点机构（3）上的打点丝（35）对不合格焊盘进行打点标记。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第四十五研究所，未经中国电子科技集团公司第四十五研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510838846.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
