[发明专利]液晶显示模组老化测试系统

摘要

本发明公开了一种液晶显示模组老化测试系统，其包括：MCU、分配器、与分配器相连的晶振和多个子控制板，MCU用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息进行第一信号转换；晶振用于提供时钟信号，分配器用于产生使能信号，并根据测试信息产生复位信号，将产生的使能信号、复位信号、晶振提供的时钟信号和MCU提供的测试信息分别提供给与多个待测机种的液晶显示模组相连的相应控制板；每一控制板用于接收到分配器提供的相应待测机种的液晶显示模组测试信息、使能信号、复位信号、时钟信号时，以点亮相应的液晶显示模组，从而实现对液晶显示模组的老化测试。本发明老化测试系统能够适于测试不同机种的液晶显示模组，并且能够提高测试效率。

主权项

1.一种液晶显示模组老化测试系统，适于测试不同机种的液晶显示模组，其包括：MCU、与所述MCU相连的分配器、与所述分配器相连的晶振和多个控制板，其中，每个所述控制板相连多个需要进行老化测试的相同机种的液晶显示模组，并且任一所述控制板所相连的多个液晶显示模组的机种相同，且与另外所述控制板所相连的液晶显示模组的机种不相同；所述控制板及所述液晶显示模组设置于测试箱内，所述MCU、分配器及晶振设置于所述测试箱外部；所述MCU，用于将多个待测机种的液晶显示模组的测试信息进行第一信号转换后通过第一信号线提供给所述分配器；所述晶振，用于提供时钟信号给所述分配器；所述分配器，用于接收所述MCU提供的所述多个待测机种的液晶显示模组的所述测试信息和所述晶振提供的所述时钟信号，产生使能信号，并根据所述测试信息产生复位信号，将产生的所述使能信号、所述复位信号、所述晶振提供的所述时钟信号和所述MCU提供的所述测试信息分别提供给与所述多个待测机种的液晶显示模组相连的相应控制板；每一控制板，用于接收到所述分配器提供的相应待测机种的液晶显示模组的所述测试信息、所述使能信号、所述复位信号、所述时钟信号时，在所述使能信号的控制下进行工作，在所述复位信号的控制下进行初始化，生成第二信号格式的测试图像信号后提供给相应的液晶显示模组，并将接收的所述相应待测机种的液晶显示模组的所述测试信息进行第二信号转换后提供给相应的液晶显示模组，以使所述相应的液晶显示模组根据经过第二信号转换后的信号和所述测试图像信号显示对应的测试图像，以点亮所述相应的液晶显示模组，从而实现对液晶显示模组的老化测试。