[发明专利]两相交小孔共面度检测装置及方法在审
申请号: | 201510796834.2 | 申请日: | 2015-11-18 |
公开(公告)号: | CN105241408A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 缑楠楠;王志骏;胡欣翔;李涛;苏二锐 | 申请(专利权)人: | 上海衡拓液压控制技术有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根;王晶 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种两相交小孔共面度检测装置及方法,该装置包括检具、光学显微镜,检具由长方体、压紧螺钉、校正板、盖板、固定螺钉组成,长方体的上端面中心设有安装被测工件的台阶孔,长方体下端面上设有与安装被测工件的孔相通的螺纹孔,螺纹孔内旋有压紧螺钉,长方体前端面呈不对称梯形状,用于实现对被测工件两对斜孔的方向校准,以显露工件两斜孔的进、出口位置而实施检测;盖板配合连接在安装台阶孔的端面上,当压紧螺钉顶着被测工件上移时由盖板实现限位;被测工件固定之前,校准板配合连接在盖板的前端定位基准面上。运用该检测方法和检具,借助于光学显微镜能够精确地检测、获取工件中两对斜孔的进、出口中心位移参数,有效而可靠。 | ||
搜索关键词: | 相交 小孔 共面度 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种两相交小孔共面度检测装置,包括检具、光学显微镜,其特征在于:所述检具由长方体(1)、压紧螺钉(2)、校正板(3)、盖板(4)、固定螺钉(5)组成,长方体(1)的上端面中心设有安装被测工件(6)的台阶孔,长方体(1)下端面上设有与安装被测工件(6)的孔相通的螺纹孔,螺纹孔内旋有压紧螺钉(2),长方体(1)前端面呈不对称梯形状,用于实现对被测工件(6)两对斜孔的方向校准,以显露工件两斜孔的进、出口位置而实施检测;盖板(4)通过固定螺钉(5)配合连接在安装被测工件(6)的台阶孔的端面上,当压紧螺钉(2)顶着被测工件(6)上移时由盖板(4)实现限位;被测工件(6)固定之前,校准板(3)配合连接在盖板(4)的前端定位基准面上,用于校准被测工件(6)的斜孔方向。
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