[发明专利]一种适合于热红外高光谱遥感的SiO2含量定量计算方法有效
申请号: | 201510759940.3 | 申请日: | 2015-11-10 |
公开(公告)号: | CN106680215B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 郭帮杰;张杰林;武鼎;周觅;王俊虎 | 申请(专利权)人: | 核工业北京地质研究院 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 包海燕 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于遥感信息科学技术领域,具体涉及一种适合于热红外高光谱遥感的SiO2含量定量计算方法。本发明的方法包括以下步骤:热红外高光谱遥感数据预处理;热红外高光谱遥感数据大气校正;热红外高光谱数据温度/发射率分离;SiO2含量定量计算经验公式确定;SiO2含量图获取。本发明解决了现有遥感技术对SiO2含量定量计算总体精度不高的技术问题,能够快速精确提取研究区SiO2含量,进而有效寻找高SiO2条带及对应断裂,通过SiO2含量的不同,能够区分出大范围的岩性差异,有利于地质填图的初期工作。 | ||
搜索关键词: | 一种 适合于 红外 光谱 遥感 sio2 含量 定量 计算方法 | ||
【主权项】:
1.一种适合于热红外高光谱遥感的SiO2含量定量计算方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1.热红外高光谱遥感数据预处理;步骤2.热红外高光谱遥感数据大气校正;步骤3.热红外高光谱数据温度/发射率分离;步骤4.SiO2含量定量计算经验公式确定;步骤5.SiO2含量图获取;步骤1中,包括辐射校正、几何校正、图像镶嵌流程,用于将数个条带拼接成整个研究区遥感图像;步骤2包括以下步骤:步骤2.1对热红外高光谱遥感数据进行大气透过率曲线、上行辐射和下行辐射模拟,得到研究区大气透过率模拟曲线及上下行辐射模拟曲线;步骤2.2按照步骤1所采用的热红外高光谱遥感数据波段进行重采样,得到重采样后大气透过率曲线,进而得到热红外高光谱遥感数据大气校正图像;步骤3中,利用归一化法进行温度/发射率分离,得到发射率图像;步骤4包括以下步骤:步骤4.1通过JHU光谱库中各种岩性的热红外光谱曲线的观察分析,找出与SiO2含量相关的波段范围;步骤4.2采集不同岩性的岩石标本进行热红外光谱数据采集;步骤4.3将步骤4.2采集到的热红外光谱数据进行重采样,使其与步骤1采用的热红外高光谱遥感数据相匹配,并结合步骤4.1找出SiO2含量密切相关的波段组合;步骤4.4对步骤4.2所述岩石标本进行地球化学测试,获取相应的SiO2含量数据;步骤4.5将步骤4.3得到的与SiO2含量密切相关的波段组合在不同组合方式下,进行四则运算、对数运算及指数运算,然后结合步骤4.4得到的SiO2含量进行回归分析,获取相关性最高的波段组合形式,即|ln[B1×B2÷(B3×B4)]|,其中,B1=B8.60μm,B2=B9.81μm,B3=B8.45‑8.61μm或B8.63‑8.75μm,B4=B9.25‑9.81μm;B8.60μm表示发射峰为8.60μm的波段的发射率;B9.81μm表示发射峰为9.81μm的波段的发射率;B8.45‑8.61μm表示发射峰为8.45‑8.61μm的波段的发射率;B8.63‑8.75μm表示发射峰为8.63‑8.75μm的波段的发射率;B9.25‑9.81μm表示发射峰为9.25‑9.81μm的波段的发射率;步骤4.6使用最小二乘法对公式系数a、b进行统计分析,得出SiO2含量定量计算经验公式,即SiO2%=a|ln[B1×B2÷(B3×B4)]|+b;步骤5中,将步骤4.6所述经验公式代入发射率图像,进行波段运算,获取SiO2含量图。
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