[发明专利]一种基于显微硬度压痕距离变化的表层内应力测量方法有效

专利信息
申请号: 201510757205.9 申请日: 2015-11-09
公开(公告)号: CN106679852B 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 周兆锋 申请(专利权)人: 盐城工学院
主分类号: G01L1/00 分类号: G01L1/00;G01B11/02
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 杨海军
地址: 224051 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于显微硬度压痕距离变化的表层内应力测量方法,通过显微硬度计在零件的表面留下成对的显微硬度压痕,用移测显微镜测量其之间的初始距离,在真空炉中对零件进行去应力退火操作,使得零件内的内应力得到释放,待其冷却后再次测量显微硬度压痕之间的距离并计算其距离的变化,可以认为该变化是完全由于内应力的释放而引起,因此可以根据所测得的压痕间的距离的变化最终计算得表层内应力。本发明所公开的测量方法操作简单,所需的设备价格低廉,且精度可靠。
搜索关键词: 一种 基于 显微 硬度 压痕 距离 变化 表层 内应力 测量方法
【主权项】:
1.一种基于显微硬度压痕距离变化的表层内应力测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤(1)、在被加工零件表面打下成对的微硬度压痕;步骤(2)、测量微硬度压痕之间的初始距离;步骤(3)、对零件进行去除内应力处理;步骤(4)、测量微硬度压痕之间在指定方向上距离的变化;步骤(5)、根据材料的弹性模量、泊松比以及所测得的显微硬度压痕之间距离的变化对内应力值进行计算;所述步骤(5)的计算方法如下:X和Y方向的表层内应力σ1、σ2的计算公式分别为:σ1=‑E(Δd1/d1+μΔd2/d2)/(1‑μ2);σ2=‑E(Δd2/d2+μΔd1/d1)/(1‑μ2);其中,E和μ分别为材料的弹性模量和泊松比,d1和d2分别为压痕在X和Y方向的初始距离,Δd1和Δd2分别为压痕在X和Y方向的距离的变化。
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