[发明专利]一种光波元件频率响应特性参数测量装置

摘要

本发明公开了一种光波元件频率响应特性参数测量装置，包括信号分离单元、信号处理单元、多通道幅相混频接收单元、射频测试单元和高频光载波信号产生单元，其中，所述信号源产生高频调制电微波信号后，信号分离单元将高频调制电微波信号分离成参考信号和输入信号，由多通道幅相混频接收单元接收。本装置集电‑光测试功能、光‑电测试功能、光‑光测试功能、电‑电测试功能于一体的，方便携带、高度集成化，能够快速、准确的对各类光波器件的频响特性进行测试。

主权项

1.一种光波元件频率响应特性参数测量装置，其特征是：包括信号分离单元、信号处理单元、多通道幅相混频接收单元、射频测试单元和高频光载波信号产生单元，其中，所述信号源产生高频调制电微波信号后，信号分离单元将高频微波信号分离成参考信号和输入信号，由多通道幅相混频接收单元接收；输入信号通过端口传输到，根据被测元件的测试类型，利用射频开关选择是否经过高频光载波信号产生单元，如果不经过高频光载波信号产生单元，则射频测试单元对被测元件进行测试后，将获得的反射信号返回多通道幅相混频接收单元；所述高频光载波信号产生单元将光源发出的光波信号进行高频调试，利用正交偏置点自动控制，实现对电光调制器线性工作点的自动跟踪保持，获得高频调制的光载波信号作为光波测试信号，光波测试信号进入多通道幅相混频接收单元；所述多通道幅相混频接收单元，将含有被测光波元件幅度和相位信息的反射信号与参考信号进行基波混频，产生中频信号，对中频信号调理后传输给信号处理单元；所述信号处理单元，接收调理后的中频信号，对电光S网络参数的运算和处理；所述高频光载波信号产生单元，包括第一隔直器、第二隔直器、电光调制器、激光器、正交偏置点自动控制单元和光接收机，其中，第一隔直器的一端连接射频测试单元中射频开关的切换端口II，另一端连接电光调制器，电光调制器一端连接激光器，电光调制器另一端连接光发射端口，正交偏置点自动控制单元控制电光调制器的偏置电压；第二隔直器的一端连接射频测试单元中另一个射频开关的切换端口II，第二隔直器的另一端连接光接收机，光接收机连接光接收端口。