[发明专利]射频测试的方法、模块和设备在审
| 申请号： | 201510744282.0 | 申请日： | 2015-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN105425061A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 庄叶荣 | 申请（专利权）人： | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201616 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种射频测试的方法，包括：在电路板上形成射频测试模块；以及使用射频测试头对准所述射频测试模块进行射频测试和校准。相应地，本发明还公开一种射频测试模块和电子系统。本发明通过直接在电路板上形成射频测试模块，成本较低而良率较高，同时节省了设备空间。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 测试 方法 模块 设备 | ||
【主权项】：
一种射频测试的方法，其特征在于，包括：在电路板上形成射频测试模块；以及使用射频测试头对准所述射频测试模块进行射频测试和校准。
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