[发明专利]一种区分光致反常霍尔效应本征机制和非本征机制的方法有效

专利信息
申请号: 201510740274.9 申请日: 2015-11-04
公开(公告)号: CN105259490B 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 俞金玲;陈涌海;程树英;赖云锋;郑巧 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350108 福建省福州市*** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种区分光致反常霍尔效应本征机制和非本征机制的方法,按照如下步骤实现:选择符合预设条件的闪锌矿半导体量子阱材料;在相同的生长条件下生长两个不同阱宽的半导体量子阱;分别测量两个半导体量子阱的光致反常霍尔效应电流以及普通光电流信号,得到光致反常霍尔电导对普通光电导信号的比值;分别测量两个半导体量子阱的光致电流效应电流,并对应将分别由Rashba以及Dresselhaus自旋轨道耦合引起的光致电流效应电流分离出来;根据测得的光致反常霍尔电导、普通光电导以及光致电流效应电流列方程,并求解出本征和非本征机制对光致反常霍尔效应电流的贡献。本发明结构设计简单,易于操作,有利于日后推广应用。
搜索关键词: 一种 区分 反常 霍尔 效应 机制 方法
【主权项】:
1.一种区分光致反常霍尔效应本征机制和非本征机制的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:选择符合预设条件的闪锌矿半导体量子阱材料;步骤S2:在相同的生长条件下生长两个不同阱宽的闪锌矿半导体量子阱,即第一半导体量子阱以及第二半导体量子阱;步骤S3:分别测量所述第一半导体量子阱以及所述第二半导体量子阱的光致反常霍尔效应电流以及普通光电流信号,并对应得到两个半导体量子阱的光致反常霍尔电导对普通光电导信号的比值;步骤S4:分别测量所述第一半导体量子阱以及所述第二半导体量子阱的光致电流效应电流,并对应将分别由Rashba以及Dresselhaus自旋轨道耦合引起的光致电流效应电流分离出来;步骤S5:根据测得的光致反常霍尔电导、普通光电导以及光致电流效应电流列方程,并求解出本征和非本征机制对光致反常霍尔效应电流的贡献。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州大学,未经福州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510740274.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top