[发明专利]一种晶体管仿真系统及方法在审
| 申请号： | 201510618100.5 | 申请日： | 2015-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN106557596A | 公开（公告）日： | 2017-04-05 |
| 发明（设计）人： | 孙涵;李春阳 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人： | 薛祥辉,李发兵 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种晶体管仿真系统及方法，该晶体管仿真系统包括晶体管测量装置，用于对待测晶体管进行网络测量，输出工作参数；晶体管仿真装置，用于利用工作参数进行晶体管仿真设计。通过本发明的实施，在使用时，利用晶体管测量装置对待测晶体管的工作参数进行网络测量，这就可以得到该晶体管在实际应用时的工作参数，进而利用该工作参数进行仿真设计，其仿真结果就是该晶体管正常工作时的使用效果，与现有晶体管仿真设计需借用器件厂家提供的晶体管模型参数存在较大的仿真误差的应用相比，最大程度的降低了由于晶体管模型参数与实际工作参数之间误差导致的仿真误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体管 仿真 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种晶体管仿真系统，其特征在于，包括：晶体管测量装置，用于对待测晶体管进行网络测量，输出工作参数；晶体管仿真装置，用于利用所述工作参数进行晶体管仿真设计。
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