[发明专利]纳米纤维并行拉伸测试系统和方法有效
| 申请号： | 201510611938.1 | 申请日： | 2015-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN105300794B | 公开（公告）日： | 2018-04-27 |
| 发明（设计）人： | 曹宁;谢少荣;罗均;李恒宇;龚振邦 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N3/06 | 分类号： | G01N3/06 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙)31205 | 代理人： | 陆聪明 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种纳米纤维并行拉伸测试系统和方法。本系统包括电子显微镜连接并行拉伸测试系统；所述并行拉伸测试系统对纳米纤维进行拾取和并行拉伸操作，通过控制各环节影响因素的误差范围，利用数据的采集处理和计算，获取纳米纤维误差可控的杨氏模量。本发明的方法是首先对纳米纤维进行操作，包括研究对象固定，大视场搜索，感兴趣区域定位，纳米纤维拾取，探针并行拉伸操作；然后利用电子显微镜和微力传感器采集分析数据，通过数据的计算分析，获取误差范围可控的杨氏模量。本发明的实施例主要用于获取纳米纤维的杨氏模量，利用并行拉伸测试系统操作纳米纤维，通过控制各环节影响因素的误差大小获取纳米纤维的可控杨氏模量。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 纤维 并行 拉伸 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种纳米纤维并行拉伸测试系统，包括电子显微镜以及与电子显微镜连接的并行拉伸测试系统，其特征在于：所述电子显微镜利用其优秀的成像能力为并行拉伸测试系统提供图像数据和操作依据；所述并行拉伸测试系统包括工作台(7)、两个闭环快速进给机构(6)、两个闭环精进给机构(1)、柔性探针组(2)、刚性探针组(5)、纳米纤维培养皿(4)、样品工作台(3)；所述两个闭环快速进给机构(6)分别安装在工作台(7)左右边上，两个闭环精进给机构(1)分别安装在两个闭环快速进给机构(6)上；所述柔性探针组(2)和刚性探针组(5)分别安装在左右两侧的闭环精进给机构(1)上；所述纳米纤维培养皿(4)固定在样品工作台(3)中央上；所述纳米纤维并行拉伸测试系统对纳米纤维进行拾取和并行拉伸操作。
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