[发明专利]厚壁容器的超声波检测工艺

摘要

本发明公开了一种厚壁容器的超声波检测工艺，该工艺根据厚壁容器的实际情况，依次通过判定合格级别，分析曲面衰减和材质衰减，选择检测探头，调节仪器灵敏度，确定检测区域，确定探头移动区域，判定仪器缺陷和复检，最终得出厚壁容器的检测结果；本发明的超声波检测工艺可以有效避免因射线检测对缺陷形态尺寸、透照条件等原因造成在厚壁检测中对面积型缺陷漏检的情况，100%超声复探增加了检测结果的准确度，很大程度上减小了裂纹等危害性缺陷存在的破坏性。

主权项

一种厚壁容器的超声波检测工艺，其特征在于，所述的超声波检测工艺包括以下步骤：1）根据检测容器的种类、壁厚、承压能力、材质、储存介质及工作环境，判定检测容器的合格级别；2）根据检测容器的特性，判定检测过程中的曲面衰减和材质衰减；3）选择检测探头：通过2.5P13*13K2或2.5P13*13K1型探头，有效检测覆盖焊缝根部或焊缝内部缺陷；4）根据检测容器的壁厚，调节仪器的检测灵敏度：选用标准用CSK‑IA或CSK‑IIIA型超声波试块，调节仪器的检测灵敏度至Φ1*6～9dB；5）确定检测容器的检测区域：检测覆盖区域为焊缝本身加焊缝两边各10mm的区域；6）确定检测探头在检测容器内的移动区域：探头的移动区域为P1=1.25P，其中P为二次波的检测界限区域，P=2KT，其中K为探头入射角度、T为容器壁厚、2指的是二次波，所以P1=1.25*2KT=3KT；7）根据超声波的检测情况，判定检测容器的的缺陷位置和缺陷大小；8）根据步骤7）中检测出来的缺陷，通过超声波衍射时差法TOFD进行复检，再次确认此缺陷是否为虚假缺陷，最后进行判定该缺陷是否为超标缺陷。