[发明专利]一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置及其方法在审
申请号: | 201510593343.8 | 申请日: | 2015-09-18 |
公开(公告)号: | CN105181697A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 申彦春;赵国忠;刘影;王佳 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G07D7/12 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100048*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置及其方法,检测装置包括连续波太赫兹辐射源、准直扩束系统、高阻硅片、氩离子激光器、离轴抛物面镜、样品台、太赫兹波探测器和计算机。本发明利用准直扩束系统将太赫兹波准直为平行光束,并经离轴抛物面镜进行二次扩束,透过样品后将其聚焦到太赫兹波探测器,通过计算机对图像进行实时成像显示,并且利用氩离子激光是否照射到高阻硅片上,实现对检测装置的开、关控制。本发明的连续波太赫兹实时水印成像检测装置具有结构紧凑,响应速度快,开关方便,可以对水印进行实时成像,具有重要的实际应用价值,还可以对隐藏在报纸、织物、塑料等包裹物内的金属危险品进行无损探测。 | ||
搜索关键词: | 一种 连续 赫兹 实时 水印 成像 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种连续波太赫兹实时水印成像检测装置,其特征在于:该装置包括连续波太赫兹辐射源(1)、准直扩束系统(2)、高阻硅片(3)、氩离子激光器(4)、第一离轴抛物面镜(5)、第二离轴抛物面镜(6)、样品台(7)、第三离轴抛物面镜(8)、太赫兹波探测器(9)和计算机(10);所述太赫兹波源(1)依次连接准直扩束系统(2)、高阻硅片(3)、第一离轴抛物面镜(5)、第二离轴抛物面镜(6)、样品台(7)、第三离轴抛物面镜(8)、太赫兹波探测器(9)和计算机(10);所述可调谐氩离子激光器(4)照射到高阻硅片(3)上。
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