[发明专利]一种羟丙基壳聚糖取代度的测定方法

摘要

本发明公开了一种羟丙基壳聚糖取代度的测定方法，包括：⑴干燥羟丙基壳聚糖样品。⑵建立检测模型：a.a.利用红外吸收光谱仪得到上述样品的红外吸收光谱图；b.测得甲基特征峰2971‑2962cm‑1的峰面积的吸光度值A1，以整个波形3020‑2500cm‑1的波谷为基线，以甲基特征峰的右侧波谷为横向边界；测得羟基特征峰3440‑3430cm‑1的峰高的吸光度值A2，以整个峰形3880‑1880cm‑1的波谷为基线；得到A1与A2的比值X；c.以标准方法测得羟丙基壳聚糖样品的取代度Y；d.以Y对X建立线性模型Y＝kX+b，从而获得模型中k和b的具体数值。⑶将经过干燥的待测样品通过红外吸收光谱图得到的比值X代入上述线性回归模型，即可通过计算得到取代度Y。该方法简便快捷、准确，无须精密称量和溶解样品。

主权项

一种羟丙基壳聚糖取代度的测定方法，包括以下步骤：⑴干燥羟丙基壳聚糖样品以除去水分，其中，每个羟丙基壳聚糖样品均通过羟丙基化反应和脱碱法纯化制得。⑵建立检测模型a.利用红外吸收光谱仪获得步骤⑴中干燥过的具有不同取代度的羟丙基壳聚糖样品的红外吸收光谱图；b.利用红外吸收光谱仪的应用软件，从a步骤中所得到的红外吸收光谱图测得甲基特征峰2971‑2962cm^‑1的峰面积的吸光度值A1，以整个波形3020‑2500cm^‑1的波谷连线为基线BL1，以甲基特征峰的右侧波谷为横向边界RL；测得羟基特征峰3440‑3430cm^‑1的峰强度的吸光度值A2，以整个峰形3880‑1880cm^‑1的波谷连线为基线BL2；得到A1与A2的比值X；c.以标准方法测得a步骤中的羟丙基壳聚糖样品的取代度Y；d.以b步骤中所得到的比值X对c步骤中所得到的羟丙基壳聚糖样品的取代度Y建立线性良好的回归模型，即Y＝kX+b，从而获得模型中k和b的具体数值；⑶检测：将待测羟丙基壳聚糖样品按照⑴的方法干燥，从⑵中a步骤得到红外吸收光谱图，按照⑵中b步骤得到比值X，代入⑵中d步骤所得到的线性回归模型，即可通过计算得到待测羟丙基壳聚糖样品的取代度Y。