[发明专利]用于连接设立为用于测试控制装置的测试装置的输入/输出接口的方法

摘要

本发明涉及一种用于连接设立为用于测试控制装置的测试装置(2)的输入/输出接口(4)与技术系统的在该测试装置(2)中存在的模型的方法，其中，输入/输出接口构成为用于连接需测试的控制装置(20)或用于连接需控制的技术系统，并且需与输入/输出接口(4)连接的模型是需控制的技术系统的模型(8)或需测试的控制装置的模型，其中，测试装置(2)还具有多个与模型连接的输入/输出功能(6)。该方法具有提供接口层级结构以及提供功能层级结构。此外该方法具有自动配置在接口层级结构与功能层级结构之间的兼容连接，使得在测试装置(2)中存在的模型能够通过兼容连接的至少部分与需测试的控制装置(20)或需控制的技术系统通信。

主权项

1.用于连接测试装置(2)的输入/输出接口(4)与需控制的或需测试的技术系统的模型的方法，所述测试装置设立为用于测试控制装置，所述模型存在于该测试装置(2)中，其中，输入/输出接口构成为用于连接需测试的控制装置(20)或用于连接需控制的技术系统，并且需与输入/输出接口(4)连接的模型是需控制的技术系统的模型(8)或需测试的控制装置的模型，其中，测试装置(2)还具有多个与模型连接的输入/输出功能(6)，其中，所述方法具有以下步骤：(a)提供接口层级结构，该接口层级结构是测试装置(2)的输入/输出接口(4)的至少一部分的写照，其具有多个层级并且由第一数量的层级元素构成，其中，所述第一数量的层级元素具有输入/输出接口(4)的多个通道，所述多个通道形成接口层级结构的最下层级；(b)提供功能层级结构，所述功能层级结构是多个输入/输出功能(6)的写照，其具有多个层级并且由第二数量的层级元素构成；(c)能实现由任意的第一层级结构选择任意的第一层级元素，其中，所述第一层级结构是接口层级结构和功能层级结构中的一个，并且由此接口层级结构和功能层级结构中的另一个确定为第二层级结构；(d)基于第一层级元素的选择来隔离第一子层级结构，其中，所述第一子层级结构包括第一层级元素和由第一层级元素向下设置的层级元素；(e)能实现从第二层级结构选择第二层级元素，其中，所述第二层级元素的选择不限于第二层级结构的与第一层级元素的层级一致的层级；(f)基于第二层级元素的选择来隔离第二子层级结构，其中，所述第二子层级结构包括第二层级元素和由第二层级元素向下设置的层级元素；(g)确定在所述第一子层级结构的层级元素与所述第二子层级结构的层级元素之间的兼容连接；以及(h)自动设置其中至少一部分兼容连接，使得在测试装置(2)中存在的模型能够通过所述至少一部分兼容连接与需测试的控制装置(20)或者需控制的技术系统通信。