[发明专利]一种获取断裂的垂直断距的方法

摘要

本发明公开了一种获取断裂的垂直断距的方法，所述方法包括以下步骤：获取地质层面构造数据，所述地质层面构造数据包含多个取样点的位置信息以及取样点对应的海拔高程数据值；获取断裂上的断距计算点位置；基于断距计算点位置以及所述取样点的位置信息分别确定所述断裂两侧与所述断距计算点位置对应的所述取样点；提取所述地质层面构造数据中所述取样点对应的所述海拔高程数据值；根据所述海拔高程数据值计算获取相应的垂直断距。与现有技术相比，根据本发明的方法可以获取更加精细的断裂的垂直断距；同时，本发明的方法执行简单，耗时低，使用本发明的方法获取垂直断距能够显著提高工作效率。

主权项

1.一种获取断裂的垂直断距的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取地质层面构造数据，所述地质层面构造数据包含多个取样点的位置信息以及取样点对应的海拔高程数据值；获取断裂上的断距计算点的位置；基于所述断距计算点的位置以及所述取样点的位置信息分别确定所述断裂两侧与所述断距计算点对应的所述取样点；提取所述地质层面构造数据中所述取样点对应的所述海拔高程数据值；根据所述海拔高程数据值计算获取相应的垂直断距；其中，在确定所述取样点的过程中：沿垂直所述断距计算点对应的断裂走向的方向将所述断距计算点分别向断裂两侧平移特定距离以获取第一基准点以及第二基准点；根据所述取样点与所述第一基准点或所述第二基准点之间的位置关系确定与所述第一基准点或所述第二基准点对应的所述取样点，从而分别确定所述断裂两侧与所述断距计算点对应的所述取样点；其中，以所述第一基准点或所述第二基准点与所述取样点之间的距离为权重，对同一所述第一基准点或所述第二基准点对应的所有所述取样点的地层的海拔高程数据值进行加权平均以获取所述第一基准点或所述第二基准点对应的断裂单侧的地层的海拔高程数据值。