[发明专利]致密基岩面孔率确定方法及装置在审
| 申请号： | 201510520519.7 | 申请日： | 2015-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN105136642A | 公开（公告）日： | 2015-12-09 |
| 发明（设计）人： | 黄成刚;袁剑英;阎存凤;曹正林;吴丽荣;赵凡;席嘉文;李志明 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 王天尧 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种致密基岩面孔率确定方法及装置，该方法包括：获得致密基岩样品，样品的上表面镀有导电金属膜，下表面未镀有导电金属膜；采用导电胶布将样品固定于场发射扫描电镜的样品台上，样品的下表面接触样品台，上表面通过导电胶布与样品台连通导电；将样品台所在样品室抽真空，开启场发射扫描电镜的电子束开关，使激发电子轰击到样品的上表面，获得样品上表面的扫描电镜图像；根据微孔发育区与无孔隙致密区的导电差异性，确定扫描电镜图像中的微孔发育区；将扫描电镜图像中微孔发育区的面积占整个视域面积的百分比确定为样品的面孔率。本发明解决了致密基岩面孔率无法通过灌注有色环氧树脂来获取的难题，可实现准确确定致密基岩面孔率。 | ||
| 搜索关键词： | 致密 基岩 面孔 确定 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种致密基岩面孔率确定方法，其特征在于，包括：获得致密基岩样品，所述样品的上表面镀有导电金属膜，下表面未镀有导电金属膜；采用导电胶布将所述样品固定于场发射扫描电镜的样品台上，所述样品的下表面接触所述样品台，上表面通过所述导电胶布与所述样品台连通导电；将所述样品台所在样品室抽真空，开启所述场发射扫描电镜的电子束开关，使激发电子轰击到所述样品的上表面，获得所述样品上表面的扫描电镜图像；根据微孔发育区与无孔隙致密区的导电差异性，确定所述扫描电镜图像中的微孔发育区；将所述扫描电镜图像中微孔发育区的面积占整个视域面积的百分比确定为所述样品的面孔率。
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