[发明专利]表面平整度红外线量测设备及其方法

摘要

本发明提供一种表面平整度红外线量测设备及其方法，其中该方法通过所述的表面平整度红外线量测设备达成，其包括以下步骤：a.通过所述坐标匹配单元将所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器的XY轴与所述待测服务器的XY轴校正在同一平面上；b.通过所述归零单元将所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器进行Z轴归零；以及c.通过所述控制单元控制所述上红外线高度检测器以及下红外线高度检测器根据使用者输入的量测要求以此量测所述待测服务器的上表面和下表面的平整度。藉此，整个量测过程快速，操作简单，量测结果准确且稳定，有效避免人为因素对量测结果的影响。

主权项

1.一种表面平整度红外线量测设备，其用于量测一待测服务器的上表面和下表面的平整度，所述待测服务器的上表面和下表面均定义沿着X轴方向和Y轴方向展开，所述待测服务器的高度方向定义为Z轴方向，其特征在于包括：一工作台，其具有一透明桌面以及若干个设置在该透明桌面上的支撑柱用于放置所述待测服务器；一上红外线高度检测器设于所述工作台的透明桌面的上方；一下红外线高度检测器设于所述工作台的透明桌面的下方；以及一监控电脑，其设置一坐标匹配单元、一归零单元、以及一控制单元，其中，所述归零单元与所述坐标匹配单元以及所述控制单元连接，所述坐标匹配单元进一步与所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器连接用于将所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器的XY轴与待测服务器的XY轴校正在同一平面上，所述归零单元进一步与所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器连接用于将所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器进行Z轴归零，所述控制单元在Z轴归零后控制所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器根据使用者输入的量测要求作三维空间移动量测所述待测服务器的上表面和下表面的平整度,所述坐标匹配单元接收所述上红外线高度检测器量测的所述待测服务器的上表面的三个角点的坐标值并根据所述三个角点的坐标值将所述上红外线高度检测器以及所述下红外线高度检测器的XY轴与待测服务器的XY轴校正在同一平面上,所述Z轴归零的基准为选择到其中一角点的高度为基准归零。