[发明专利]一种斜井双侧向测井曲线校正方法有效

专利信息
申请号: 201510469477.9 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN105114063B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 范宜仁;周明顺;金凤鸣;王磊;邢东辉 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东);中国石油天然气股份有限公司华北油田分公司勘探开发研究院
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38;E21B49/00
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司37205 代理人: 邵朋程
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种斜井双侧向测井曲线校正方法,包括步骤S1、建立斜井双侧向测井正演模型;S2、正演模拟确定地层倾角及目的层厚度门槛值;S3、根据实测双侧向测井资料,综合自然伽马、成像及倾角测井资料,进行地层分层和地层倾角确定,接着结合正演结果确定是否进行资料校正;S4、若需要进行校正,则根据分层结果提取目的层电阻率代表值,通过不断更新地层电阻率模型参数,使得重构地层中心点处双侧向测井值与实际测井值的误差达到设定容许精度误差以内;S5、利用地层电阻率值,正演直井条件下的双侧向测井响应,同时将其他环境影响因素加入,获取直井条件时双侧向测井曲线。本发明利于斜井条件下的基于双侧向测井资料的电测井评价问题。
搜索关键词: 一种 斜井 侧向 测井 曲线 校正 方法
【主权项】:
一种斜井双侧向测井曲线校正方法,其特征在于包括以下步骤:S1、根据区块地质资料,建立斜井双侧向测井正演地层模型;S2、正演模拟不同角度条件下的双侧向测井响应特征,确定需要进行双侧向测井资料校正时的地层倾角及目的层厚度门槛值;S3、根据实测双侧向测井资料,综合自然伽马、成像及倾角测井资料,进行地层分层和地层倾角确定,接着根据正演结果给出的需要校正的层厚和倾角门槛值,确定是否需要进行双侧向测井资料校正;若需要进行双侧向测井资料校正,则根据分层结果提取各层电阻率代表值;S4、根据分层结果和各层电阻率代表值,建立反演地层模型,采用步骤S3提取的电阻率代表值作为分层的初始反演参数,然后对各层分别进行反演,以获取该目的层的电阻率参数;S5、根据反演所得的目的层电阻率参数和步骤S3获取的分层信息,重构井斜角度下的多层双侧向测井曲线,对比反演重构曲线和实际测井曲线,并取两者的差值作为其他井眼环境影响因素;S6、根据反演所得的目的层电阻率参数和步骤S3获取的分层信息,重构直井下的多层双侧向测井曲线,将重构曲线与步骤S5中的其他井眼环境影响因素进行叠加,从而将斜井双侧向测井曲线校正到直井条件下。
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