[发明专利]测试引出线结构及测试装置在审
| 申请号： | 201510439532.X | 申请日： | 2015-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN105139787A | 公开（公告）日： | 2015-12-09 |
| 发明（设计）人： | 甘启明 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试引出线结构，用于连接显示装置内部的信号线以及外部的测试线，其包括第一绝缘层、第二绝缘层、第一引出线以及第二引出线，其中第一引出线在第二绝缘层上的投影与第二引出线在第二绝缘层上的投影间隔设置；本发明还提供一种测试装置。本发明的测试引出线结构和测试装置在进行切割操作时，可以较好的避免不同测试引出线之间产生短路现象。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 引出 结构 装置 | ||
【主权项】：
一种测试引出线结构，用于连接显示装置内部的信号线以及外部的测试线，其特征在于，包括：第一绝缘层；第二绝缘层，设置在所述第一绝缘层上；第一引出线，设置在所述第一绝缘层和所述第二绝缘层之间；以及第二引出线，设置在所述第二绝缘层上；其中所述第一引出线在所述第二绝缘层上的投影与所述第二引出线在所述第二绝缘层上的投影间隔设置。
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