[发明专利]基于机器视觉技术的材料变形非接触测量系统在审
申请号: | 201510437757.1 | 申请日: | 2015-07-23 |
公开(公告)号: | CN106705874A | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
发明(设计)人: | 王呈呈 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区职业技术学院 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙)32251 | 代理人: | 刘计成 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种基于机器视觉技术的材料变形非接触测量系统,该系统包括用于拉伸侧材料试样、拉伸装置、摄像机及中央处理器。拉伸装置与拉伸侧材料试样连接,述拉伸装置用于拉伸材料试样。材料试样上可设置有两条平行设置的标记线,两条标记线平行设置。该材料变形非接触测量系统采用摄像机直接给试样进行拍照,通过电脑显示装置的像素来测量试样上标记线之间的距离,进而计算出拉伸前和拉伸后试样的变形量。该测量系统无需测量装置与试样材料进行接触就可进行测量,实现起来非常的方便,而且测量精度高、测量速度快,可有效提高工作效率。 | ||
搜索关键词: | 基于 机器 视觉 技术 材料 变形 接触 测量 系统 | ||
【主权项】:
一种基于机器视觉技术的材料变形非接触测量系统,其特征在于,其包括:用于拉伸侧材料试样,所述材料试样上设置有两条平行设置的标记线;拉伸装置,所述材料试样与所述拉伸装置连接,所述拉伸装置用于拉伸所述材料试样;摄像机,所述摄像机用于采集所述材料试样的图像信息;中央处理器,所述中央处理器包括显示单元、直线绘制单元、像素灰度比对单元和距离计算单元,所述中央处理器与所述摄像机连接,所述显示单元用于显示所述摄像机采集的图片,所述直线绘制单元用于在所述显示单元显示的图片上绘制一条与两条标记线垂直相交的直线,所述像素灰度比对单元用于判断所述直线与所述标记线的交点,所述距离计算单元用于计算两个交点之间的距离。
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