[发明专利]基于SVM的X光图像空箱检测方法在审

专利信息
申请号: 201510434866.8 申请日: 2015-07-23
公开(公告)号: CN106371145A 公开(公告)日: 2017-02-01
发明(设计)人: 李新;程荣;马兵会 申请(专利权)人: 中云智慧(北京)科技有限公司
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100176 北京市大兴区亦庄经*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种基于svm的X光图像空箱检测方法,首先对X光图像归一化,得到尺寸一致的图像,提取水平和竖直两个方向上的颜色直方图特征,然后提取基于gabor滤波器的纹理特征值,最后将两种特征结合,采用直方图交叉核的支持向量机算法,具有分类快且准确率高的优点。
搜索关键词: 基于 svm 图像 空箱 检测 方法
【主权项】:
一种基于SVM的X光图像空箱检测方法,其特征在于:在由X光机图像采集设备和计算机组成的系统中,所述的检测方法包括训练阶段和检测阶段;训练阶段包括以下步骤,步骤1.1,采集样本库,利用X光机过行李包裹,并将采集的图像中的空箱用人工标定切割出来作为正样本,从非空箱的X光图像中随机切割非空箱图像作为负样本;建立样本库;步骤1.2,对样本库中的X光图像尺寸进行归一化处理,即,将样本库中的X光图像尺寸归一化为指定尺寸;步骤1.3,计算归一化处理后的图像在水平和竖直两个方向的颜色直方图,记为;步骤1.4,对颜色直方图进行归一化处理,记为;步骤1.5,选取Gabor滤波器的尺度数和方向数,对X光图像进行Gabor变换,并取变换后的均值和标准差作为纹理特征向量T;步骤1.6,对Gabor滤波后的纹理特征向量进行归一化处理,记为;步骤1.7,把颜色直方图和Gabor纹理特征向量组合;步骤1.8, 将样本库中所有X光图像按步骤1.7计算特征向量,用SVM进行训练,SVM的核函数采用径向基函数,训练完成后,得到上述融合的特征向量的分类器模型;二.检测阶段包括以下步骤:步骤2.1,对待检测的X光图像进行归一化处理;步骤2.2,对归一化的图像计算水平和竖直两个方向的颜色直方图,记为H(i);步骤2.3,对颜色直方图H(i)进行归一化处理;步骤2.4,选取Gabor滤波器的尺度数和方向数,对X光图像进行Gabor变换,并取变换后的均值和标准差作为纹理特征向量T;步骤2.5,对Gabor滤波后的纹理特征向量进行归一化处理;步骤2.6,把颜色直方图和Gabor纹理特征向量组合;步骤2.7,将得到的特征向量使用训练阶段训练出的分类器模型进行计算,得到X光图像分属两类的概率,判断X光图像是否属于空箱。
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