[发明专利]确定经过射束调整装置的粒子强度分布的方法和装置有效
| 申请号： | 201510422995.5 | 申请日： | 2015-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN106354896B | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 刘娟;周婧劼;李贵;唐寅 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种确定经过射束调整装置的粒子强度分布的方法和装置。该方法包括以下步骤：计算粒子经过射束调整装置后的强度分布，包括：获取粒子穿过射束调整装置前的状态，包括粒子在射束坐标系中的权重和/或能量、位置与方向；使用该射束调整装置的各限束部件的交线长度矩阵和粒子在射束坐标系中的状态来计算粒子经过射束调整装置的交线长度，其中所述交线长度矩阵包括不同入射位置的粒子与不同入射方向的粒子与该射束调整装置的对应限束部件的交线长度；使用粒子穿过射束调整装置前的权重和/或能量以及粒子穿过射束调整装置的交线长度来计算粒子经过射束调整装置后的权重和/或能量改变；以及将粒子的位置沿着粒子的方向由射束调整装置前变换到射束调整装置后，得到原粒子强度分布。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 经过 调整 装置 粒子 强度 分布 方法 | ||
【主权项】：
一种确定经过射束调整装置的粒子强度分布的方法，包括以下步骤：计算粒子经过射束调整装置后的强度分布，包括：获取粒子穿过该射束调整装置前的状态，该状态包括粒子在射束坐标系中的权重和/或能量、位置、与方向；使用该射束调整装置的各限束部件的交线长度矩阵和该粒子在射束坐标系中的位置与方向来计算粒子经过该射束调整装置的交线长度，其中所述交线长度矩阵包括不同入射位置的粒子与不同入射方向的粒子与对应的限束部件的交线长度；使用粒子穿过该射束调整装置前的权重和/或能量以及粒子穿过该射束调整装置的交线长度来计算粒子经过该射束调整装置后的权重和/或能量改变；以及将粒子的位置沿着粒子的方向由射束调整装置前变换到射束调整装置后，得到原粒子强度分布。
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