[发明专利]MCM-41修饰碳糊电极的制备及用于电化学检测头孢曲松

摘要

本发明涉及一种MCM-41介孔分子筛修饰碳糊用于头孢曲松的电化学检测。以十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)为模板剂、正硅酸乙酯(TEOS)为硅源，采用水热合成法制备了MCM-41介孔分子筛，并采用两步煅烧法去除模板剂。采用XRD、FT-IR、透射电镜法对其进行表征。并将制备的MCM-41介孔分子筛掺杂到石墨粉中制备碳糊修饰电极，主要从缓冲溶液pH值、扫描速度等方面研究了头孢曲松在MCM-41介孔分子筛修饰碳糊电极上的电化学行为。并考察了头孢曲松药物的浓度与电化学响应间的相关性，为快速定量检测提供依据。MCM-41介孔分子筛修饰的碳糊电极在头孢类药物的电化学检测方面表现出了广阔的前景，为头孢曲松药物的快速电化学检测提供了一条简便的方法。

主权项

一种MCM‑41介孔分子筛掺杂的碳糊电极电化学检测头孢曲松的方法，其特征在于: 1.2 g的十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)溶于50 mL去离子水、25%的氨水调节pH至10.2，滴加5 mL 正硅酸乙酯(TEOS)，搅拌6h，过滤得全硅MCM‑41介孔分子筛原粉；250℃烘焙2 h， 600℃下焙烧4 h，得到全硅MCM‑41介孔分子筛；石墨粉、MCM‑41介孔材料按90：10研磨混合均匀，制成MCM‑41介孔分子筛掺杂的碳糊电极；然后用电化学工作站三电极体系在脉冲幅度0.07 V、脉冲宽度0.02 s，pH为3.0的H3PO4‑NaOH 缓冲溶液中进行头孢曲松的测定。