[发明专利]基于纳米线垂直阵列的流体粘度检测装置及检测方法

摘要

本发明公开了一种基于纳米线垂直阵列的流体粘度检测装置及检测方法，该检测装置包括人机交互装置、检测处理电路、包含激励线圈的检测探头以及采用磁性纳米线阵列制成的微芯片，检测探头依次与检测处理电路和人机交互装置连接，微芯片用于放入待测流体中，检测探头用于在待测流体的正上方为微芯片提供交变磁场并检测微芯片的实时振动信号。本发明结构紧凑、体积小，便于移动，只需要少量样品即可进行粘度检测，稳定性和可靠性高，而且采用磁性纳米线阵列，极大地提高了灵敏度和响应速度，也无需额外考虑流体导电性的影响，可广泛应用于流体粘度测量领域中。

主权项

基于纳米线垂直阵列的流体粘度检测装置，其特征在于，包括人机交互装置、检测处理电路、包含激励线圈的检测探头以及采用磁性纳米线阵列制成的微芯片，所述检测探头依次与检测处理电路和人机交互装置连接，所述微芯片用于放入待测流体中，所述检测探头用于在待测流体的正上方为微芯片提供交变磁场并检测微芯片的实时振动信号；所述微芯片是通过模板电化学沉积法或溶液凝胶法，在第一基底上制备竖直的磁性纳米线阵列所制成的；所述检测处理电路包括锁相放大器和微处理器，所述检测探头的一端通过微处理器与人机交互装置连接，所述检测探头的另一端与锁相放大器的信号输入端连接；所述磁性纳米线阵列的密度为7‑10g/cm3，直径为10‑200nm，高度为50‑1000nm；所述激励线圈为带有引线的螺旋状的线圈。