[发明专利]一种基于SiPM的PET系统的延时测算方法

摘要

本发明涉及一种基于SiPM的PET系统的延时测算方法，通过在PET系统的像素化PET探测器环的视野中心设置校正棒源，并在不改变校正棒源位置的前提下，通过一次数据采集，获得所有PET探测器的响应线数据，进而得到不同的像素化探测器的通道之间的时间谱，经过1对1读出方式分析像素化PET探测器环的每一层(i+1)个像素之间的时间延迟及j层i号像素之间的时间延迟，获得整个像素化PET探测器环的i*j个像素化探测器之间的时间延迟数据，只需将时间延迟数据反馈到硬件中，即可实现整个基于SiPM的PET系统的所有像素化探测器通道之间的时间校准，有效提高PET系统的时间分辨率，从而达到提高PET系统图像质量目的。

主权项

一种基于SiPM的PET系统的延时测算方法，其特征在于：所述延时测算方法包括以下步骤：步骤1：将直径为d的校正棒源置于PET系统的像素化PET探测器环的视野中心，所述像素化PET探测器环包括j层像素化探测器，所述像素化PET探测器环每层包括(i+1)个像素化探测器；i＞0，j＞0；步骤2：通过时间T的采集，获得针对校正棒源的所有PET探测器的响应线数据；步骤3：处理步骤2得到的响应线数据，得到不同的像素化探测器的通道之间的时间谱；步骤4：分析像素化PET探测器环的每一层(i+1)个像素之间的时间延迟；步骤4.1：设待测量像素为Pa，0≤a≤i；步骤4.2：当a＜(i+1)/2时，测量像素Pa与P(i+1+2a)/2像素之间的时间谱，找出时间谱中心位置Ma；测量像素P(a+1)与P(i+1+2a)/2像素之间的时间谱，找出时间谱中心位置Na；像素Pa与像素P(a+1)之间的时间延迟为Ma‑Na；步骤4.3：当(i+1)/2≤a≤(i‑1)时，测量像素Pa与P(2a‑1‑i)/2像素之间的时间谱，找出时间谱中心位置Ma；测量像素P(a+1)与P(2a‑1‑i)/2像素之间的时间谱，找出时间谱中心位置Na；此时，像素Pa与像素P(a+1)之间的时间延迟为Ma‑Na；步骤4.4：记录像素化探测器的像素P0到P(i+1)各点之间的时间延迟；步骤4.5：以步骤4.1至步骤4.4的方式依次记录像素化PET探测器环的每一层(i+1)个像素之间的时间延迟；步骤5：选定第一层上的0号像素，分析j层0号像素之间的时间延迟；步骤5.1：像素X0与像素Y0是以校正棒源为对称轴的镜像像素，测量像素X0与像素Y0之间的时间谱，找出时间谱中心位置s0；测量像素X1与像素Y0之间的时间谱，找出时间谱中心位置t0；像素X0与像素X1之间的时间延迟为s0‑t0；步骤5.2：像素X1与像素Y1是以校正棒源为对称轴的镜像像素，测量像素X1与像素Y1之间的时间谱，找出时间谱中心位置s1；测量像素X2与像素Y1之间的时间谱，找出时间谱中心位置t1；像素X1与像素X2之间的时间延迟为s1‑t1；步骤5.3：依次类推，通过Xj和Yj间的时间谱算出像素X0至Xj两两之间的时间延迟；步骤5.4：选定第一层上的1号像素，分析j层1号像素之间的时间延迟，依次类推，最终分析出j层i号像素之间的时间延迟；步骤6：综合步骤4.5和步骤5.4的数据，获得整个像素化PET探测器环的i*j个像素化探测器之间的时间延迟数据。